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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 是德Keysight > LCR表 > E4981B電容表
簡要描述：E4981B電容表，120赫茲/1千赫/1兆赫E4981B電容計(jì)可為生產(chǎn)線上的陶瓷電容測試提供高速且可靠的測量結(jié)果
產(chǎn)品型號(hào)：E4981B廠商性質(zhì)：代理商更新時(shí)間：2025-06-06訪 問 量：1049產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
| 品牌 | KEYSIGHT/美國是德 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
E4981B電容計(jì)可為生產(chǎn)線上的陶瓷電容測試提供高速且可靠的測量結(jié)果
Keysight Technologies，Inc.E4981B電容計(jì)提供最佳性能的陶瓷電容制造測試。提供快速的測量速度和突出的準(zhǔn)確性，E4981A是業(yè)界的新標(biāo)準(zhǔn)。
測量時(shí)間
高速測量:2.3毫秒（1兆赫），3.0毫秒（1千赫），11.0毫秒（120赫茲）
基本精度
精確C-D測試:0.05%，0.0005（規(guī)格），0.042%，0.0003（典型）
更多功能
9 垃圾箱排序
256 多通道校正
與4268A、4288A和E4981A兼容的SCPI命令和處理器/掃描器接口
高值陶瓷電容器測試的測試信號(hào)電平補(bǔ)償
多功能PC連接（LAN、USB和GPIB）
一個(gè)完整的解決方案，可替代4268A、4288A和E4981A
快速測量速度-2.3毫秒（1 MHz從觸發(fā)器到EOM）
測量準(zhǔn)確且可重復(fù)，即使是小電容也能被測量
測量范圍寬，從小到大電容0 F到2.0 mF
0 F至1.5nF/1 MHz
68 pF至200 nF/1 kHz
6.8 nF至2 mF/120 Hz
與4268A、4288A和E4981A的兼容性
SCPI命令
I/F處理器
掃描儀I/F
增強(qiáng)的生產(chǎn)測試功能
增強(qiáng)接觸故障檢測
同步源
1 MHz時(shí)的頻移（±1%，±2%）
更快的數(shù)據(jù)傳輸
E4981B電容計(jì)可為生產(chǎn)線上的陶瓷電容測試提供高速且可靠的測量。E4981B實(shí)現(xiàn)了從小到大的電容測量能力，測量結(jié)果準(zhǔn)確。E4982B電容測量計(jì)有助于提高測試吞吐量，同時(shí)為陶瓷電容的測試獲得優(yōu)異的組件質(zhì)量。
技術(shù)資料
本文檔提供了Keysight Technologies，Inc.E4981A電容計(jì)的規(guī)格和補(bǔ)充信息。所有規(guī)格適用于0°C至45°C溫度范圍內(nèi)的條件，除非另有說明，并在儀器已打開30分鐘后。
目錄
定義和規(guī)格
測量顯示范圍
可用測量范圍
可用測量范圍
可用測量范圍
環(huán)境溫度超過18～28°C范圍時(shí)的精度（典型值）
施加交流磁場時(shí)的精度
測量精度
補(bǔ)充資料
測量信號(hào)
測量時(shí)間
顯示時(shí)間
測量數(shù)據(jù)傳輸時(shí)間
測量輔助功能
一般規(guī)格
電磁兼容、安全、環(huán)境和合規(guī)性
電磁兼容、安全、環(huán)境和合規(guī)性
測量精度的樣本計(jì)算
樣品
當(dāng)測量參數(shù)為Cp-D（或Cs-D）時(shí)
當(dāng)測量參數(shù)為Cp-Q（或Cs-Q）時(shí)
當(dāng)測量參數(shù)為Cp-G時(shí)
當(dāng)測量參數(shù)為Cp-Rp時(shí)
當(dāng)測量參數(shù)為Cs-Rs時(shí)
應(yīng)用文章
介紹
今天，元器件制造商需要更高的生產(chǎn)率和元器件產(chǎn)量，以便提供更低成本的產(chǎn)品，更快的交貨和更高的可靠性，以與非常激烈的競爭競爭。因此，大多數(shù)元器件生產(chǎn)商需要使用掃描儀進(jìn)行阻抗測試，以提高生產(chǎn)率和控制其產(chǎn)品的質(zhì)量。然而，使用掃描器進(jìn)行測量不同于使用普通測試夾具進(jìn)行測量。有必要減少由于延長電纜和掃描儀中存在的殘余阻抗而產(chǎn)生的測量誤差。本應(yīng)用說明描述如何采用使用LF LCR計(jì)和LF阻抗分析儀與掃描儀的測量系統(tǒng)，以及如何解決使用掃描系統(tǒng)時(shí)可能產(chǎn)生的殘余阻力相關(guān)的問題。此外，本說明涵蓋了實(shí)際的掃描系統(tǒng)實(shí)例，如電子元件的溫度特性評(píng)估和絕緣電阻測量。
設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)
本節(jié)首先介紹設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)的關(guān)鍵點(diǎn)，然后解釋系統(tǒng)
配置、特殊考慮因素，以及為處理這些問題而設(shè)計(jì)的解決方案。
審查所需規(guī)格
掃描系統(tǒng)的示例如圖1所示。該掃描系統(tǒng)允許一臺(tái)測量儀器通過切換到另一臺(tái)測量許多被測設(shè)備（DUT）。當(dāng)您設(shè)計(jì)掃描系統(tǒng)時(shí)，您必須選擇掃描器和電纜配置。為此，您應(yīng)澄清對(duì)系統(tǒng)的測量要求（規(guī)格）。要復(fù)核的規(guī)格包括測量精度、DUT的阻抗、測試頻率和掃描器通道的數(shù)目。所需的測量精度將決定掃描系統(tǒng)中允許的最大殘余阻抗和雜散電容。此外，測量值和測試頻率要求由電纜配置決定。通道數(shù)目決定您應(yīng)選擇的掃描器類型。
選擇電纜配置
掃描儀所使用的電纜配置取決于所要測量的阻抗值，如表1所示，有兩種電纜配置可供選擇:四端對(duì)（4TP）和屏蔽雙端（2T），使用4TP配置可在寬阻抗和頻率范圍內(nèi)達(dá)到最高精度，但由于每個(gè)測量通道需要許多電纜和開關(guān)，因此硬件成本增加；另一方面，如果DUT的阻抗大于100歐姆，且測量頻率范圍高于100 kHz，則可以使用屏蔽2T配置，屏蔽2T配置可讓您以較低的系統(tǒng)成本擁有最大數(shù)量的測量通道。
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